当前查看：江阴集成电路设计创新中心有限公司检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
按“芯片”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A103E.01：2021
高温存储寿命
检测项目：高温存储试验
检测对象：芯片
JESD22-A119A：2015
低温存储寿命
检测项目：低温存储试验
JESD22-A104F.01：2023
温度循环
检测项目：温度循环试验