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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选,展示 2 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 2 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
MIL-STD-750-3:2012
半导体器件的晶体管电性试验方法 第3部分:试验方法3000至3999
检测项目:阈值电压
检测对象:场效应晶体管
IEC 60747-8 (Edition 3.1):2021
半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管