数据更新时间
2026-05-12
按“温度”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
温度偏置寿命试验 JESD22-A108G：2022
温度偏置寿命试验 JESD22-A108G：2022
检测项目：高温反偏试验、高温栅偏试验
检测对象：半导体器件
高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A110E.01：
高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A110E.01：
检测项目：高加速温湿度应力试验
检测对象：半导体器件
加速耐湿-无偏高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A118B.01：
加速耐湿-无偏高加速温度和湿度应力试验 JESD22-A118B.01：
检测项目：无偏置高加速温湿度应力试验
检测对象：半导体器件
温度循环 JESD22-A104F.01：
温度循环 JESD22-A104F.01：
检测项目：温度循环
检测对象：半导体器件
温度冲击 JESD22-A106B.02：
温度冲击 JESD22-A106B.02：
检测项目：温度冲击
检测对象：半导体器件