当前查看：苏州东微半导体股份有限公司实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体器件的晶体管电学试验方法 第3部分：方法3000至3999 MIL-STD-750-3:2019 方法
检测项目：阈值电压
检测对象：半导体器件