数据更新时间
2026-05-12
按“热阻”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
EIA/JESD51-1:1995
集成电路热阻测试方法——电测方法（单个半导体器件）
检测项目：结-壳热阻
检测对象：分立型功率MOSFET器件
JESD51-14:2010
测量具有单路径热流的半导体器件结壳热阻的瞬态双界面试验方法
检测项目：结-壳热阻
检测对象：分立型功率MOSFET器件
JESD51-2A:2008
集成电路热阻测试方法环境条件——自然对流（静止空气）
检测项目：结-环境热阻
检测对象：分立型功率MOSFET器件