数据更新时间
2026-05-12
已按“半导体材料”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细，也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 GB/T 24582-2023
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法 GB/T 37049-2018
硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 GB/T 39145-2020
电子化学品 电感耦合等离子体质谱法通则 SJ∕T 11637-2016
上海赛夫特半导体材料有限公司CA实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 24582-2023、GB/T 37049-2018、GB/T 39145-2020、SJ∕T 11637-2016 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 多晶硅、电子级多晶硅、硅片、高纯试剂（盐酸、硝酸、氢氟酸、双氧水、硫酸及相关的混合溶液） 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
可以换标准号、产品或检测项目继续搜索；也可以留下需求，让工程师帮您确认是否能做。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。