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数据更新时间
2026-05-12
按“IEC TS 61967-3:2014”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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IEC TS 61967-3:2014
集成电路-电磁发射测量-第3部分:辐射发射测量-表面扫描法
检测项目：集成电路-辐射发射RE-表面扫描法
检测对象：电子元器件