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北京国创先进技术检测有限公司

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北京市 · 北京市

地址:北京市北京经济技术开发区泰河三街九号院一区4号楼1层1002室

联系电话:010-53970240

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“P”筛选,展示 35 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 20 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

JEDEC JESD22-A117E-2018

电可擦可编程ROM (eeprom)程序/擦除耐久性和数据保持测试

3 项检测项目

检测项目:NVM读写耐久性NVCE、NVM 循环后高温数据保持能力PCHTDR、NVM 低温数据保持能力和读干扰LTDR

检测对象:电子元器件

NVM读写耐久性NVCENVM 循环后高温数据保持能力PCHTDRNVM 低温数据保持能力和读干扰LTDR

CISPR 25:2021

车辆、船和内燃机 无线电骚扰特性 用于保护车载接收机的限值和测量方法

3 项检测项目

检测项目:低压部件传导发射CE-电压法、低压部件传导发射CE-电流探头法、低压部件辐射发射RE-ALSE法

检测对象:汽车用电子、电气设备与仪表

低压部件传导发射CE-电压法低压部件传导发射CE-电流探头法低压部件辐射发射RE-ALSE法
ISO 20653-2023

道路车辆 防护等级(IP代码)电气电子设备对外来物、水和触及的防护

1 项检测项目

检测项目:防尘防水

检测对象:汽车用电子、电气设备与仪表

防尘防水
GB/T 30038-2013

道路车辆 电气电子设备防护等级(IP代码)

1 项检测项目

检测项目:防尘防水

检测对象:汽车用电子、电气设备与仪表

防尘防水

EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E-2017

元件引线、端子、接线片、端子和电线的可焊性试验

1 项检测项目

检测项目:可焊性SD

检测对象:电子元器件

可焊性SD

JOINT IPC/JEDEC J-STD-035A-2022

非密封封装电子器件用声显微

1 项检测项目

检测项目:超声扫描SAT

检测对象:电子元器件

超声扫描SAT

AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021

杂项测试方法 第4节 AEC-Q101-004 Section

6 项检测项目

检测项目:参数验证PV、预处理PC、功率温度循环PTC、破坏性物理分析 DPA、物理尺寸PD、引线键合拉力强度WBP

检测对象:汽车用半导体器件-分立器件

参数验证PV预处理PC功率温度循环PTC破坏性物理分析 DPA物理尺寸PD引线键合拉力强度WBP

AEC - Q100 - REV-J 2023

基于失效机理的车用集成电路应力试验鉴定规范 表2 第A1项

4 项检测项目

检测项目:预处理PC、功率温度循环PTC、引线键合拉力强度WBP、物理尺寸PD

检测对象:汽车用半导体器件-集成电路

预处理PC功率温度循环PTC引线键合拉力强度WBP物理尺寸PD

AQG324-2025

机动车电力电子转换单元用功率模块鉴定

3 项检测项目

检测项目:寄生杂散电感Lp、功率循环PCsec、功率循环PCmin

检测对象:汽车用功率模块

寄生杂散电感Lp功率循环PCsec功率循环PCmin

JEDEC JESD22-A113I:2020

可靠性测试前非密封表面贴装装置的预处理

1 项检测项目

检测项目:预处理PC

检测对象:电子元器件

预处理PC

AEC-Q006-REV-A:2016

使用铜(Cu)导线互连的部件的合格要求

1 项检测项目

检测项目:引线键合拉力强度WBP

检测对象:汽车用半导体器件-集成电路

引线键合拉力强度WBP

JEDEC JESD22-B120-2022

引线键合拉力测试

1 项检测项目

检测项目:引线键合拉力强度WBP

检测对象:电子元器件

引线键合拉力强度WBP

MIL-STD-750-2B-2022

半导体器件的机械试验方法 第2部分:试验方法2001至2999 方法

1 项检测项目

检测项目:引线键合拉力强度WBP

检测对象:电子元器件

引线键合拉力强度WBP

MIL-STD883L-2019

微电路测试方法 方法

1 项检测项目

检测项目:引线键合拉力强度WBP

检测对象:电子元器件

引线键合拉力强度WBP

IEC 60749-34:2010

半导体器件 机械和气候试验方法第 34部分:功率循环

1 项检测项目

检测项目:功率循环PC

检测对象:电子元器件

功率循环PC

JEDEC JESD22-B100B:2003

物理尺寸

1 项检测项目

检测项目:物理尺寸PD

检测对象:电子元器件

物理尺寸PD

IEC 62132-4:2006

集成电路 150kHz至1GHz 电磁抗扰度测量 第4部分:直接射频功率注入法

1 项检测项目

检测项目:集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI

检测对象:电子元器件

集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI
GB/T 42968.4-2024

集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法

1 项检测项目

检测项目:集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI

检测对象:电子元器件

集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI

IEC 62228-3:2019

集成电路-收发器的EMC评估-第3部分:CAN收发器

1 项检测项目

检测项目:集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI

检测对象:电子元器件

集成电路-电磁抗扰度CI-射频功率直接注入法DPI

JEDEC JESD22-A105D:2020

功率和温度循环

1 项检测项目

检测项目:功率温度循环PTC

检测对象:电子元器件

功率温度循环PTC

机构信息

机构名称

北京国创先进技术检测有限公司

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市北京经济技术开发区泰河三街九号院一区4号楼1层1002室

联系电话

010-53970240

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