数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、数据建立时间t<Sub>s</Sub>、数据保持时间t<Sub>h</Sub>、输出传输延迟t<Sub>pd</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：集成电路