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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
元器件引线、焊端、焊片、端子和导线的可焊性测试 EIA/IPC/JEDC J-STD-002E CN:2017 4.2.6,4.2.7
微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008
微束分析 原子序数不小于11的元素能谱法定量分析 GB/T 17359-2023
印制板可焊性测试 IPC J-STD-003D:2022 4.2.1
显微切片,手动和半自动或自动法 IPC-TM-650:2015 2.1.1F
染色和拉拔测试方法 IPC-TM-650:2017 2.4.53
印制板应变测试指南 IPC/JEDEC-9704A CN:2012 3,4
捷普电子无锡有限公司失效分析实验室已整理公开能力范围,可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 EIA/IPC/JEDC J-STD-002E CN:2017、GB/T 16594-2008、GB/T 17359-2023、IPC J-STD-003D:2022、IPC-TM-650:2015、IPC-TM-650:2017 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 印刷电路板、电子元器件 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试,或切换到其他分公司查看。