数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
机械电气安全-机械电气设备-第33部分：半导体设备技术条件 GB/T 5226.33-2017 18.14
机械电气安全-机械电气设备-第33部分：半导体设备技术条件 IEC 60204-33:2009 18.14
半导体制造设备电气设计的安全指南 SEMI S22-0718 22.13
半导体制造设备的环境、健康和安全指南 SEMI S2-0724 27
电磁兼容性(EMC) 第4-11部分 试验和测量技术 输入电流不超过16A的设备的电压下降、短时中断和电压变化抗扰度试验 IEC 61000-4-11:2020 8.3.2
电磁兼容(EMC) 第4-34 部分试验和测量技术 每相输入电流大于16A的设备用电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 IEC 61000-4-34:2005 8.2.1
半导体制造设备排气通风的环境、健康和安全指南 SEMI S6-0618 附录2
北京北方华创微电子装备有限公司产品安全测试实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 5226.33-2017、IEC 60204-33:2009、SEMI S22-0718、SEMI S2-0724、IEC 61000-4-11:2020、IEC 61000-4-34:2005 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体制造设备 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
