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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 43748-2024”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
检测项目：微纳米尺寸测量
检测对象：电子元器件