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数据更新时间
2026-05-12
按“硅片”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
检测项目：钠、镁、铝、钾、钙、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌
检测对象：硅片
GB/T 32281-2015
太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
检测项目：硼、磷、氧
检测对象：硅片
GB/T 32495-2016
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
检测项目：砷
检测对象：硅片