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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
基于失效机制的车用集成电路应力测试认证标准 AEC-Q100-REV-J August 11,2023 表2 第A2项
基于失效机制的车用半导体分立器件应力测试认证标准 AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021 表2 第A3 alt项
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1
无源元件的应力测试认证标准 AEC-Q200-REV-E March 20,2023 第3项
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1027
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2009.2
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1103方法2.6.2
半导体器件 机械和气候试验方法 第 22 部分：键合强度 GB/T 4937.22-2018 方法B
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代表标准包括 AEC-Q100-REV-J August 11,2023、AEC-Q101-Rev-E March 1, 2021、GJB548C-2021、AEC-Q200-REV-E March 20,2023、GJB 128B-2021、GJB 548C-2021 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
