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数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 28 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</Sub>
检测对象：差分信号电路
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</Sub>
检测对象：电平转换器
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：启动延迟t<Sub>TR</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器