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数据更新时间
2026-05-12
按“数据”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q100-005D1：2012
非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和运行寿命测试 AEC-Q100-005D1-：
检测项目：NVM非易失性存储器验证(EDR)
检测对象：塑封半导体集成电路
HB 20235-2014
军用飞机平台环境数据测量与采集要求 6.1.4.2；
检测项目：温度、湿度
检测对象：电工电子产品、电子设备、电子及电气元件
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：最高数据率DR<Sub>MAX</Sub>
检测对象：差分信号电路