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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 233 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 24 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出低电平短路电流I<Sub>OSL</Sub>、输出高电平短路电流I<Sub>OSH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub> 等 25 项，点击展开全部
检测对象：TTL集成电路
检测对象：差分信号电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：数字信号处理器
检测对象：模拟开关
检测对象：MOS随机存储器
检测对象：CMOS集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出低电平短路电流I<Sub>OSL</Sub>、输出高电平短路电流I<Sub>OSH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、输入电流I<Sub>IN</Sub> 等 15 项，点击展开全部
检测对象：差分信号电路
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、静态电流I<Sub>CCQ</Sub>、输出对地短路电流I<Sub>OSL</Sub>、输出对电源短路电流I<Sub>OSH</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、电流传输比CTR、高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>、反向电流、输出截止电流、电流传输比
检测对象：半导体光电耦合器
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 IV.
检测项目：输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、电源电流I<Sub>I</Sub>、短路输出电流
检测对象：运算放大器
GB/T 4377—2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率S<Sub>I</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>、耗散电流变化⊿I<Sub>D</Sub>、短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：电压调整器
半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、共发射极正向电流传输比的静态值
检测对象：双极型晶体管
半导体器件 第6部分：晶闸管
检测项目：反向峰值电流、维持电流、门极触发电流、擎住电流
检测对象：晶闸管
GB/T 6798—1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：电压比较器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：电压比较器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)
检测对象：模拟开关
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、电源电流I<Sub>EEQ</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 第2节
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极截止电流
检测对象：场效应晶体管
半导体器件 分立器件 第9 部分：绝缘栅双极型晶体管
检测项目：集电极截止电流、栅极漏电流
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
GJB1515B-2017
固体继电器通用规范
检测项目：输入接通电压/电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
GJB63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
GJB733B-2011
有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
GJB1312A-2001
非固体电解质钽电容器总规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
GJB603A-2011
有失效率等级的铝电解电容器通用规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
GJB2283A-2014
片式固体电解质钽固定电容器通用规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范
检测项目：输入电流-功率
检测对象：晶体振荡器
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：反向电流
检测对象：二极管