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数据更新时间
2026-05-12
按“粗检漏”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：粗检漏
检测对象：通用元器件
检测对象：半导体集成电路
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法
检测项目：粗检漏
检测对象：通用元器件
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：粗检漏
检测对象：通用元器件
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法1014.2条件C
检测项目：粗检漏
检测对象：半导体集成电路
MIL-STD-883-1-2019
微电路环境试验方法 第1部分：试验方法1000-1999 方法1014.17 条件C
检测项目：粗检漏
检测对象：半导体集成电路