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2026-05-12
按“输出”筛选，展示 222 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：输出允许时间t<Sub>PZH</Sub>、输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>、输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出禁止时间t<Sub>PLZ</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub> 等 23 项，点击展开全部
检测对象：TTL集成电路
检测对象：差分信号电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：数字信号处理器
检测对象：MOS随机存储器
检测对象：CMOS集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出低电平短路电流I<Sub>OSL</Sub>、输出高电平短路电流I<Sub>OSH</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、共模输出电压V<Sub>OS</Sub> 等 22 项，点击展开全部
检测对象：差分信号电路
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、输出对地短路电流I<Sub>OSL</Sub>、输出对电源短路电流I<Sub>OSH</Sub>、输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub> 等 16 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、输入电压跃变时的输出响应V<Sub>VOR</Sub>、负载跃变时的输出响应V<Sub>LOR</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
GB/T 6798—1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：电压比较器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：电压比较器
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出截止电流
检测对象：半导体光电耦合器
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 IV.
检测项目：差分放大器的输出电压范围V<Sub>OPP</Sub>、输出电压最大变化率(转换速率)S<Sub>VOM</Sub>、短路输出电流
检测对象：运算放大器
GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范
检测项目：输出高电平、输出低电平、输出波形
检测对象：晶体振荡器
GB/T 4377—2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电压偏差⊿V<Sub>O</Sub>
检测对象：电压调整器
GJB 2650-96
微波元器件性能测试方法 方法
检测项目：输出功率、输出功率频响、增益、1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平
检测对象：微波元器件
SJ 20645-97
微波电路放大器测试方法
检测项目：输出功率、输出功率频响、增益、1dB压缩点输入功率电平、1dB压缩点输出功率电平
检测对象：微波元器件
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
GJB1515B-2017
固体继电器通用规范
检测项目：输出电压降/输出导通电阻、输出漏电流
检测对象：固体继电器
SJ/T 10805-2018/
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>
检测对象：电压比较器