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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：输入阈值电压V<Sub>IT-</Sub>、输入阈值电压V<Sub>IT+</Sub>、输入阈值电压V<SUB>IT+</SUB>、输入阈值电压V<SUB>IT-</SUB>
检测对象：TTL集成电路
检测对象：CMOS集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入高电平阈值电压V<Sub>TH</Sub>、输入低电平阈值电压V<Sub>TL</Sub>
检测对象：差分信号电路
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 第6节
检测项目：栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
半导体器件 分立器件 第9 部分：绝缘栅双极型晶体管
检测项目：栅极-发射极阈值电压
检测对象：绝缘栅双极型晶体管