其他地区
联系电话：暂无
数据更新时间
2026-05-12
按“Cl”筛选，展示 15 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、电源电流I<Sub>EEQ</Sub>、输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>CL</Sub>
检测对象：TTL集成电路
检测对象：差分信号电路
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入钳位电压V<Sub>CL</Sub>
检测对象：差分信号电路