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2026-05-12
按“GB/T 4937.4-2012”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：HAST
检测对象：塑封半导体集成电路