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航天科工防御技术研究试验中心

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“GB/T17574-1998”筛选,展示 216 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 IV.

61 项检测项目

检测项目:静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、传输时间t<Sub>PLH</Sub>、传输时间t<Sub>PHL</Sub>、输出允许时间t<Sub>PZH</Sub>、输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>、输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出禁止时间t<Sub>PLZ</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub> 等 61 项,点击展开全部

检测对象:TTL集成电路

静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>传输时间t<Sub>PLH</Sub>传输时间t<Sub>PHL</Sub>输出允许时间t<Sub>PZH</Sub>输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>输出禁止时间t<Sub>PLZ</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输入阈值电压V<Sub>IT-</Sub>输入阈值电压V<Sub>IT+</Sub>建立时间t<Sub>su</Sub>保持时间t<SUB>h</SUB>输入箝位电压V<SUB>IK</SUB>输出高电平电压V<SUB>OH</SUB>输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>输入电流I<SUB>I</SUB>输入高电平电流I<SUB>IH</SUB>输入低电平电流I<SUB>IL</SUB>输出短路电流I<SUB>OS</SUB>输出高阻态电流I<SUB>OZH</SUB>输出高阻态电流I<SUB>OZL</SUB>静态条件下的电源电流I<Sub>CCH</Sub>

检测对象:差分信号电路

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>输入钳位电压V<Sub>CL</Sub>输出低电平短路电流I<Sub>OSL</Sub>输出高电平短路电流I<Sub>OSH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>

检测对象:复杂可编程逻辑器件

输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>传输时间t<Sub>PD</Sub>静态条件下的电源电流I<SUB>CCSB</SUB>动态条件下的总电源电流I<SUB>CC</SUB>

检测对象:现场可编程门阵列

输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态条件下的电源电流I<SUB>CCSB</SUB>

检测对象:数字信号处理器

输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>动态条件下的总电源电流I<Sub>CC</Sub>

检测对象:模拟开关

输入高电平电流I<SUB>IH</SUB>输入低电平电流I<SUB>IL</SUB>静态条件下的电源电流I<SUB>DD</SUB>

检测对象:MOS随机存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>输入负载电流I<Sub>LI</Sub>输出高阻态电流I<SUB>OZH</SUB>输出高阻态电流I<SUB>OZL</SUB>动态条件下的总电源电流I<Sub>CC</Sub>静态条件下的电源电流I<Sub>SB</Sub>静态条件下的电源电流I<SUB>DD</SUB>地址存取时间t<Sub>AA</Sub>片选存取时间t<Sub>AC</Sub>功能测试(全“1”全“0”)功能测试(棋盘格)输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<SUB>IL</SUB>

检测对象:CMOS集成电路

输入箝位电压V<SUB>IK</SUB>输入高电平电压V<SUB>IH</SUB>输入低电平电压V<SUB>IL</SUB>输入阈值电压V<SUB>IT+</SUB>输入阈值电压V<SUB>IT-</SUB>输出高电平电压V<SUB>OH</SUB>输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>输入高电平电流I<SUB>IH</SUB>输入低电平电流I<SUB>IL</SUB>输出高电平电流I<SUB>OH</SUB>输出低电平电流I<SUB>OL</SUB>输出高阻态电流I<SUB>OZH</SUB>输出高阻态电流I<SUB>OZL</SUB>静态条件下的电源电流I<SUB>DD</SUB>输出短路电流I<SUB>OS</SUB>动态条件下的总电源电流I<SUB>CC</SUB>建立时间t<SUB>su</SUB>保持时间t<SUB>h</SUB>传输时间t<SUB>PLH</SUB>传输时间t<SUB>PHL</SUB>输出允许时间t<SUB>PZH</SUB>输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>输出禁止时间t<SUB>PHZ</SUB>滞后电压∆V<Sub >T</Sub>转换时间t<SUB>THL</SUB>转换时间t<SUB>TLH</SUB>输出禁止时间t<SUB>PLZ</SUB>

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