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2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选，展示 40 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 1101/
检测项目：内部目检、键合强度、扫描电子显微镜（SEM）检查、剪切强度、外部目检、X射线检查、粒子碰撞噪声检测（PIND）、密封 等 9 项，点击展开全部
检测对象：密封半导体集成电路
检测对象：混合集成电路
检测对象：塑封半导体集成电路
检测对象：晶体振荡器
检测对象：通用元器件
检测对象：半导体集成电路
检测对象：晶体管和有键合引线二极管