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数据更新时间
2026-05-12
按“PH”筛选，展示 17 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：传输时间t<Sub>PHL</Sub>、输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>、传输时间t<SUB>PHL</SUB>、输出禁止时间t<SUB>PHZ</SUB>
检测对象：TTL集成电路
检测对象：CMOS集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>
检测对象：差分信号电路
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>
检测对象：电平转换器
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路