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2026-05-12
按“U”筛选，展示 500 条相关能力（共 526 条，已先展示前 500 条）（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD22-A103D
JEDEC STANDARD High Temperature Storage Life
检测项目：高温试验
检测对象：电工电子产品、设备、电子及电气元件
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 IV.
检测项目：静态条件下的电源电流I<Sub>CCL</Sub>、传输时间t<Sub>PLH</Sub>、传输时间t<Sub>PHL</Sub>、输出允许时间t<Sub>PZH</Sub>、输出允许时间t<SUB>PZL</SUB>、输出禁止时间t<Sub>PHZ</Sub>、输出禁止时间t<Sub>PLZ</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub> 等 59 项，点击展开全部
检测对象：TTL集成电路
检测对象：差分信号电路
检测对象：复杂可编程逻辑器件
检测对象：现场可编程门阵列
检测对象：数字信号处理器
检测对象：模拟开关
检测对象：MOS随机存储器
检测对象：CMOS集成电路
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub> 等 36 项，点击展开全部
检测对象：差分信号电路
半导体集成电路电平转换器测试方法
检测项目：输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> 等 24 项，点击展开全部
检测对象：电平转换器
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、交叉调整率V<Sub>C</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、启动过冲V<Sub>TO</Sub>、启动延迟t<Sub>TR</Sub> 等 15 项，点击展开全部
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 IV.
检测项目：开环电压放大倍数A<Sub>V</Sub>、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入线性放大器的偏置电压V<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、电源电压抑制比k<Sub>SVR</Sub>、共模抑制比k<Sub>CMR</Sub>、差分放大器的输出电压范围V<Sub>OPP</Sub>、单位增益频率f<Sub>1</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：运算放大器
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>、线性误差E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、电源电压灵敏度K<Sub>SVS</Sub>、零点误差E<Sub>Z</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：A/D和D/A转换器
GB/T 4377—2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>rip</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>、耗散电流变化⊿I<Sub>D</Sub>、最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>、短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电压调整器
GB/T 6798—1996
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电压比较器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<SUB>OL</SUB>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：电压比较器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)、开启时间t<Sub>on</Sub>、关断时间t<Sub>off</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、通道转换时间t<Sub>T</Sub>、导通电阻路差率R<Sub>ON_Match</Sub>
检测对象：模拟开关
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：正向电压V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、反向击穿电压V<Sub>BR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>、低电平电源电流I<Sub>CCL</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
SJ/T 10737-96
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、电源电流I<Sub>EEQ</Sub>、输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：发射极耦合逻辑（ECL）电路
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>、直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>、双极零点误差E<Sub>BZ</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象：电压调整器
SJ/T 10805-2018/
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>
检测对象：电压比较器