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数据更新时间
2026-05-12
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MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000至1999 方法
检测项目：间歇工作寿命（IOL）、高温反偏试验（HTRB）
检测对象：电子元器件