数据更新时间
2026-05-12
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SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高阻态时高水平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低水平电流I<Sub>OZL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路