数据更新时间
2026-05-12
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命中 7 条相关能力，检测对象、检测项目、标准依据等明细已隐藏
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.1
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.10
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018 5.1
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.2
西安天光半导体有限公司检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB 9147-2017、SJ/T10741-2000、SJ/T10805-2018、GB/T 4377-2018、GB/T14028-2018 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体集成电路运算放大器、半导体集成电路CMOS电路、半导体集成电路电压比较器、半导体集成电路模拟开关、半导体集成电路电压调整器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。