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2026-05-12
按“硅”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
检测项目：薄层厚度
检测对象：硅表面上二氧化硅薄层
GB/T 29559-2013
表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析
检测项目：铝、硅、镍、铁、铅、锌、锑
检测对象：锌和/或铝基合金镀层