数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 AEC-Q101-REV-E March 1,2021 表格 2：第E1项
美国国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分: 试验方法1000至1999 MIL-STD-750-1B：2022 方法1037.3
稳态温湿度偏差寿命试验 JESD22-A 101D.01:2021 全部条款
加速防潮-无偏高压釜 JESD22-A 102E:2015 (Reaffirmed: January 2021) 全部条款
温度循环 JESD22-A 104F.01：2023 全部条款
温度、偏差和工作寿命 JESD22-A 108G：2022 全部条款
高加速温度和湿度应力测试 JESD22-A 110E.01:2021 全部条款
加速耐湿性-无偏高加速温度和湿度应力测试 JESD22-A 118B.01:2021 全部条款
重庆平创半导体研究院有限责任公司检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 AEC-Q101-REV-E March 1,2021、MIL-STD-750-1B：2022、JESD22-A 101D.01:2021、JESD22-A 102E:2015 (Reaffirmed: January 2021)、JESD22-A 104F.01：2023、JESD22-A 108G：2022 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 功率半导体器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
