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中国电子科技集团公司第十四研究所检测试验中心

当前查看:中国电子科技集团公司第十四研究所检测试验中心

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“环”筛选,展示 36 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 32 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GJB1389B-2022

系统电磁环境效应要求

3 项检测项目

检测项目:电磁辐射对人体危害、电搭接、外部射频电磁环境敏感性

检测对象:专用系统

电磁辐射对人体危害电搭接外部射频电磁环境敏感性
GJB8848-2016

系统电磁环境效应试验方法

3 项检测项目

检测项目:电磁辐射对人体危害、电搭接、外部射频电磁环境敏感性

检测对象:专用系统

电磁辐射对人体危害电搭接外部射频电磁环境敏感性
GB/T2423.1-2008

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验 A: 低温

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电子和电气产品

低温试验
GB/T2423.22-2012

环境试验 第2部分:试验方法,试验N:温度变化

1 项检测项目

检测项目:温度冲击

检测对象:电子和电气产品

温度冲击

GJB150.5A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

1 项检测项目

检测项目:温度冲击

检测对象:电子和电气产品

温度冲击
GB/T2423.10-2019

环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc 振动(正弦)

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电子和电气产品

振动试验
GB/T2423.56-2023

环境试验 第2部分:试验方法试验Fh:宽带随机振动和导则

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电子和电气产品

振动试验

GJB150.16A-2009

军用装备实验室环境试验方法第16部分: 振动试验

1 项检测项目

检测项目:振动试验

检测对象:电子和电气产品

振动试验
GB/T2423.5-2019

环境试验 第2部分:试验方法,试验Ea和导则:冲击

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电子和电气产品

冲击试验

GJB150.18A-2009

军用装备实验室环境试验方法第18部分: 冲击试验

1 项检测项目

检测项目:冲击试验

检测对象:电子和电气产品

冲击试验

GJB150.4A-2009

军用装备实验室环境试验方法第4部分: 低温试验

1 项检测项目

检测项目:低温试验

检测对象:电子和电气产品

低温试验
GB/T2423.15-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度

1 项检测项目

检测项目:加速度试验

检测对象:电子和电气产品

加速度试验

GJB150.15A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第15部分:加速度试验

1 项检测项目

检测项目:加速度试验

检测对象:电子和电气产品

加速度试验
GB/T2423.27-2020

环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度/湿度/低气压综合试验

1 项检测项目

检测项目:温度-高度(低气压)试验

检测对象:电子和电气产品

温度-高度(低气压)试验
GJB150.6-1986

军用设备环境试验方法 温度-高度试验

1 项检测项目

检测项目:温度-高度(低气压)试验

检测对象:电子和电气产品

温度-高度(低气压)试验

GB/T2423.21-2025

环境试验 第2部分:试验方法 试验 M: 低气压

1 项检测项目

检测项目:低气压(高度)试验

检测对象:电子和电气产品

低气压(高度)试验

GJB150.2A-2009

军用装备实验室环境试验方法第2部分:低气压(高度)试验;

1 项检测项目

检测项目:低气压(高度)试验

检测对象:电子和电气产品

低气压(高度)试验
GB/T2423.2-2008

电工电子产品环境试验第2部分:试验方法,试验B:高温

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电子和电气产品

高温试验

GJB150.11A-2009

军用装备实验室环境试验方法第11部分: 盐雾试验

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电子和电气产品

盐雾试验

GB2423.17-20024

环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾 GB/T 2423.17-

1 项检测项目

检测项目:盐雾试验

检测对象:电子和电气产品

盐雾试验
GJB1032-1990

电子产品环境应力筛选方法

1 项检测项目

检测项目:环境应力筛选试验

检测对象:电子和电气产品

环境应力筛选试验

GJB1032A-2020

电子产品环境应力筛选方法

1 项检测项目

检测项目:环境应力筛选试验

检测对象:电子和电气产品

环境应力筛选试验

GJB150.24A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验

1 项检测项目

检测项目:温度-湿度-振动-高度试验

检测对象:电子和电气产品

温度-湿度-振动-高度试验

GJB150.3A -2009

军用装备实验室环境试验方法第3部分: 高温试验

1 项检测项目

检测项目:高温试验

检测对象:电子和电气产品

高温试验
GB/T2423.3-2016

环境试验第2部分 :试验方法Cab:恒定湿热试验

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:电子和电气产品

湿热试验
GB/T2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环)

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:电子和电气产品

湿热试验

GJB150.9A-2009

军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验

1 项检测项目

检测项目:湿热试验

检测对象:电子和电气产品

湿热试验

GJB128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

1 项检测项目

检测项目:温度循环

检测对象:半导体分立器件筛选

温度循环

SJ/T10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法

1 项检测项目

检测项目:开环电压增益

检测对象:电压比较器

开环电压增益

GJB1389A-2005

系统电磁兼容性要求

1 项检测项目

检测项目:外部射频电磁环境敏感性

检测对象:专用系统

外部射频电磁环境敏感性

QJ 2491-1993

半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:开环电压增益

检测对象:运算放大器

开环电压增益

GJB548C--2021

微电子器件试验方法和程序 方法

1 项检测项目

检测项目:温度循环

检测对象:集成电路筛选

温度循环

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第十四研究所检测试验中心

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

联系电话

010-68200821

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