数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 电平转换器测试方法
检测项目：输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间、输出由高电平到高阻态传输延迟时间
检测对象：电平转换器
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：延迟时间
检测对象：快闪（FLASH）存储器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟
检测对象：电源模块
半导体集成电路 第 2 部分：数字集成电路 第 IV 篇第 3 节
检测项目：延迟时间
检测对象：数字集成电路