数据更新时间
2026-05-12
已按“射频插入损耗”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细，也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
固体继电器总规范 GJB1515B-2017 , method 4.7.7.9
电连接器试验方法 GJB1217A-2009 方法1001
固体继电器总规范 GJB1515A-2001 方法 4.7.17
电连接器试验方法 GJB1217-1991 方法1001
射频继电器通用规范 GJB9375-2018 方法4.6.1
射频继电器通用规范 Q/UP 20311-2012 方法4.6.1
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法101
电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996 方法101
中国电子科技集团公司第四十研究所质量监督检验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB1515B-2017、GJB1217A-2009、GJB1515A-2001、GJB1217-1991、GJB9375-2018、Q/UP 20311-2012 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 固体继电器、电连接器、射频继电器、射频电缆、电子及电气元件、射频同轴连接器、微电子器件、有可靠性指标的电磁继电器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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检测对象、检测项目、标准依据等明细已隐藏
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