数据更新时间
2026-05-12
已按“JESD22-A103E.01:2021”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细，也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
自恢复保险丝的测量程序 AEC-Q200-004 REV A:2000 001
无源器件应力鉴定测试 AEC-Q200-REV E:2023 表14,No. 14
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 IEC 60747-8:2021 6.3.1
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1部分：总规范 GB/T 7153-2002 4.24
雪崩击穿二极管（ABD）瞬态电压抑制器 JESD210A:2017 4.1
温度、偏置和工作寿命 JESD22-A108G:2022 4.2.3.3
国防部测试方法标准半导体器件环境试验方法第1部分：试验方法1000至1999 MIL-STD-750-1B:2022 1038.5条件A
无源器件应力鉴定测试 AEC-Q200-REV-E:2023 表14,No. 10
上海维安电子股份有限公司测试中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 AEC-Q200-004 REV A:2000、AEC-Q200-REV E:2023、IEC 60747-8:2021、GB/T 7153-2002、JESD210A:2017、JESD22-A108G:2022 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 PTC自恢复保险丝、半导体器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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