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2026-05-12
请输入标准号、产品名或检测项目，查看该机构的相关能力。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体 IEC 60747-8:2021 6.3.1
半导体器件 第2部分:分立器件-整流二极管 IEC 60747-2:2025 6.3.1
温度,偏压,和工作寿命试验 JEDEC JESD22-A108G-2022 4.2.3.3
半导体器件环境试验方法第 1 部分:试验方法 1000 至 1999 MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023 方法 1038.5
汽车电力电子转换单元的功率模块认证 AQG 324-2025 9.6
外部目检测试 JEDEC JESD22-B101D-2022
深圳基本半导体股份有限公司检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 IEC 60747-8:2021、IEC 60747-2:2025、JEDEC JESD22-A108G-2022、MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023、AQG 324-2025、JEDEC JESD22-B101D-2022 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体器件、场效应晶体管、二极管 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
