当前查看：深圳基本半导体股份有限公司检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
按“W”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023
半导体器件环境试验方法第 1 部分:试验方法 1000 至 1999 方法
检测项目：高温反偏试验
检测对象：半导体器件