数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60747-8:2010+AMD1:2021
半导体器件-分立器件-第8部分 场效应晶体管
检测项目：栅源极阈值电压(VGS(th))
检测对象：场效应晶体管
IEC 60747-9:2019
半导体器件-分立器件-第9部分 绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
检测项目：栅极-发射极阈值电压 (VGE(th))
检测对象：绝缘栅双极晶体管