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数据更新时间
2026-05-12
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IEC 60747-8:2010+AMD1:2021
半导体器件-分立器件-第8部分 场效应晶体管
检测项目：MOS二极管正向恢复时间，电荷(Tfr,Qfr )
检测对象：场效应晶体管