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数据更新时间
2026-05-12
按“失调”筛选,展示 3 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 2 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:失调电流<I>I</I><Sub>os</Sub>、失调电压<I>V</I><Sub>os</Sub>
检测对象:模拟集成电路
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目:失调误差<I>E</I><Sub>o</Sub>
检测对象:混合集成电路A/D、D/A变换器