数据更新时间
2026-05-12
按“硅”筛选，展示 185 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 98 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10675-2002
电子及电器工业用二氧化硅微粉
检测项目：外观、粒径、憎水性的测定、无定形二氧化硅、水萃取液中钠、水萃取液中氯、结晶二氧化硅含量、全部参数
检测对象：硅微粉
检测对象：电子及电器工业用二氧化硅微粉
检测对象：熔融石英
铸造用硅砂化学分析方法
检测项目：二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钠、氧化钾
检测对象：石英及相关矿产品系列
硅质耐火材料化学分析方法
检测项目：二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙和氧化镁、氧化钾和氧化钠、灼减
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：硅微粉
球形二氧化硅微粉
检测项目：外观、球形度、磁性异物、筛分余量、球化率、部分参数
检测对象：硅微粉
检测对象：球形二氧化硅微粉
JC/T753-2022
硅质玻璃原料化学分析方法
检测项目：三氧化二铁、三氧化二铝、二氧化钛、二氧化硅、氧化钙
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：硅微粉
单晶硅生长用石英坩埚
检测项目：抗析晶性、外观质量、耐热性、部分参数
检测对象：石英玻璃制品
检测对象：单晶硅生长用石英坩埚
JC/T 2067-2011
太阳能多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚
检测项目：外观质量、尺寸偏差、部分参数、外观质量及尺寸偏差
检测对象：石英玻璃制品
检测对象：太阳能多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚
普通磨料 碳化硅化学分析方法
检测项目：游离碳、碳化硅、三氧化二铁
检测对象：普通磨料
检测对象：硅微粉
检测项目：粒度、外观、全部参数
检测对象：工业硅
GB/T 25074-2017
太阳能级多晶硅
检测项目：表面质量、尺寸范围、全部参数
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能级多晶硅
GB/T 12963-2022
电子级多晶硅
检测项目：表面质量、尺寸范围、全部参数
检测对象：晶体硅
检测对象：硅多晶
GB/T29055-2019
太阳电池用多晶硅片
检测项目：外形尺寸、部分参数、表面质量
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
钢铁及合金 硅含量的测定 重量法
检测项目：硅、酸溶硅、全硅含量
检测对象：铸造用生铁
检测对象：金属材料、合金及制品
SJ/T3228.4-2016
电子产品用高纯石英砂第4部分：二氧化硅的测定
检测项目：二氧化硅、石英砂的纯度
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：硅微粉
GB/T 12214-2019
熔模铸造用硅砂、粉
检测项目：硅粉含量、全部参数
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：熔模铸造用硅砂、粉
GB/T9442-2024
铸造用硅砂
检测项目：角形因数、全部参数
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：铸造用硅砂
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
检测项目：氧化夹层、结构
检测对象：晶体硅
GB/T 12962-2015
硅单晶
检测项目：规格、全部参数
检测对象：晶体硅
检测对象：硅单晶
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
检测项目：参考面位置、部分参数
检测对象：晶体硅
检测对象：硅单晶抛光片
GB/T 14142-2017
硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
检测项目：外延层位错、外延层堆垛层错密度
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
SEMI PV1-0709
高分辨率辉光放电质谱法测量太阳能电池硅材料中痕量元素的方法 SEMI V1-
检测项目：基体金属杂质含量、金属杂质和硼含量
检测对象：晶体硅
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
检测项目：外形尺寸、全部参数
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用硅单晶片
普通磨料 碳化硅
检测项目：全部参数
检测对象：普通磨料 碳化硅
工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定
检测项目：铁
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第2部分：铝含量的测定 铬天青-S分光光度法
检测项目：铝
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
检测项目：钙
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：元素含量
检测对象：工业硅
硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：III-V族杂质含量
检测对象：晶体硅
SEMI MF1630-1107
单晶硅Ⅲ－Ⅴ级杂质的低温FT－IR分析测试方法
检测项目：III-V族杂质含量
检测对象：晶体硅
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
SEMI MF 1535-1106
非接触微波反射光电导衰减测试硅晶片载流子复合寿命的方法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：晶体硅
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
检测项目：氧浓度
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
SEMI MF1188-1107
用短基线红外吸收法测试硅中间隙氧原子含量
检测项目：氧浓度
检测对象：晶体硅
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
检测项目：碳浓度
检测对象：晶体硅
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
SEMI MF1391-1107
红外吸收法测试硅中替位碳原子含量
检测项目：碳浓度
检测对象：晶体硅
硅抛光片表面质量目测检验方法
检测项目：表面质量
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
硅片直径测量方法
检测项目：直径及允许偏差
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
硅片径向电阻率变化的测量方法
检测项目：径向电阻率变化测量
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
检测项目：晶体完整性
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
GB/T 13387-2009
硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
检测项目：参考面长度
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
GB/T 13388-2009
硅片参考面结晶学取向 X射线测试方法
检测项目：主参考面晶向
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
GB/T 4058-2009
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
检测项目：氧化诱生缺陷
检测对象：晶体硅
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
检测项目：基磷电阻率
检测对象：晶体硅
GB/T 4060-2018
硅多晶真空区熔基硼检验方法
检测项目：基硼电阻率
检测对象：晶体硅
硅片厚度和总厚度变化测试方法
检测项目：厚度及总厚度变化
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
检测项目：翘曲度
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
GB/T 14847-2010
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
检测项目：外延层厚度
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
检测项目：基体金属杂质含量
检测对象：晶体硅
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
检测项目：全部参数
检测对象：太阳能级单晶硅
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
检测项目：部分参数
检测对象：硅单晶切割片和研磨片
GB/T 14139-2019
硅外延片
检测项目：部分参数
检测对象：硅外延片
GB/T 29054-2019
太阳能级铸造多晶硅块
检测项目：全部参数
检测对象：太阳能级铸造多晶硅块
硅铁 硅含量的测定 高氯酸脱水重量法和氟硅酸钾容量法
检测项目：硅
检测对象：硅铁
硅铁 磷含量的测定 铋磷钼蓝分光光度法
检测项目：磷
检测对象：硅铁
硅铁化学分析方法 高碘酸钾光度法测定锰量
检测项目：锰
检测对象：硅铁
硅铁 铝含量的测定 铬天青S分光光度法、EDTA滴定法和火焰原子吸收光谱法
检测项目：铝
检测对象：硅铁
硅铁 铬含量的测定 二苯基碳酰二肼分光光度法
检测项目：铬
检测对象：硅铁
硅铁 硫含量的测定 红外线吸收法和色层分离硫酸钡重量法
检测项目：硫
检测对象：硅铁
GB /T4333.8-2022
硅铁 钙含量的测定火焰原子吸收光谱法
检测项目：钙
检测对象：硅铁
硅铁化学分析方法 红外线吸收法测定碳量
检测项目：碳
检测对象：硅铁
硅铁 多元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：铝、钙、锰、铬、钛、铜、磷、镍
检测对象：硅铁
检测项目：全部参数
检测对象：硅铁
锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰 锰含量的测定 电位滴定法、硝酸铵氧化滴定法及高氯酸氧化滴定法
检测项目：锰
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰 硅含量的测定 钼蓝分光光度法、氟硅酸钾滴定法和高氯酸重量法
检测项目：硅
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰 磷含量的测定 钼蓝分光光度法和铋磷钼蓝分光光度法
检测项目：磷
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰 碳含量的测定 红外线吸收法、气体容量法、重量法和库仑法
检测项目：碳
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰 硫含量的测定 红外线吸收法和燃烧中和滴定法
检测项目：硫
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
锰硅合金
检测项目：全部参数
检测对象：锰硅合金
钢铁及合金 酸溶硅和全硅含量的测定 还原型硅钼酸盐分光光度法
检测项目：酸溶硅、全硅含量
检测对象：金属材料、合金及制品
GB/T 5238-2019
锗单晶和锗单晶片
检测项目：表面质量、单晶方片边长、厚度及总厚度变化
检测对象：晶体硅
工业循环冷却水和锅炉用水中钾、钠含量的测定
检测项目：水萃取液中钠、水萃取液中钾
检测对象：硅微粉
食品安全国家标准 饮用天然矿泉水检验方法
检测项目：偏硅酸
检测对象：瓶（桶）装水
SJ/T 10380-2012
工业用酸洗石英砂
检测项目：二氧化硅
检测对象：石英及相关矿产品系列
GB/T4734-2022
日用陶瓷材料及制品化学分析方法
检测项目：二氧化硅
检测对象：石英及相关矿产品系列
检测对象：日用陶瓷用石英
石英玻璃化学成分分析方法
检测项目：化学成分
检测对象：太阳能多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
检测项目：电阻率
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
检测对象：太阳能电池用多晶硅片
半导体单晶晶向测定方法
检测项目：晶向及晶向偏离度
检测对象：晶体硅
检测对象：硅外延片
GB/T5252-2020
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
检测项目：位错密度
检测对象：晶体硅
粒度分析 激光衍射法
检测项目：粒径
检测对象：硅微粉
化工产品中水分测定的通用方法干燥减量法
检测项目：含水量
检测对象：硅微粉
滑石物理检验方法
检测项目：密度
检测对象：硅微粉
SJ/T 3228.3-2016
电子产品用高纯石英砂第3部分：灼烧失量的测定
检测项目：灼烧失量
检测对象：硅微粉
锅炉用水和冷却用水分析方法 电导率测定
检测项目：电导率
检测对象：硅微粉
化学试剂pH值测定通则
检测项目：水萃取液中pH值
检测对象：硅微粉
GB/T13390-2008
金属粉末比表面积的测定 氮吸附法
检测项目：比表面积
检测对象：硅微粉
普通磨料 密度的测定
检测项目：密度
检测对象：硅微粉
JB/T 11284-2012
普通磨料 pH值的测定方法
检测项目：pH值
检测对象：硅微粉
普通磨料磁性物含量测定方法
检测项目：磁性物质含量
检测对象：硅微粉
化学试剂电感耦合等离子体质谱分析方法通则
检测项目：铀、钍含量
检测对象：硅微粉
碳素钢和中低合金钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法（常规法）
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铝、铜、镍、钒、钛、钼、铬、铌元素含量
检测对象：金属材料、合金及制品
铁合金产品粒度的取样和检测方法
检测项目：粒度
检测对象：硅铁
检测对象：锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰
ASTM E415-21
碳素钢和低合金钢光学放射真空光谱测定分析的试验方法
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铝、铜、镍、钒、钛、钼、铬、铌元素含量
检测对象：金属材料、合金及制品
不锈钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法（常规法）
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铝、铜、镍、钒、钛、钼、铬、铌元素含量
检测对象：金属材料、合金及制品
铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法
检测项目：硅、铁、铜、锰、镁、铬、镍、锌、钛、钒、铅、锡、锑、铋、砷、镉、钴、钼、锆
检测对象：铝合金
YS/T 482-2022
铜及铜合金分析方法 火花放电原子发射光谱法
检测项目：锌、锡、铅、铁、镍、铝、磷、硅、锰、硫、铋、锑、镁、砷、钴、镉、铬、锆
检测对象：铜及铜合金