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数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 56 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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General specification for quartz Crystal units
石英晶体元件通用规范 GJB2138A-2015
检测项目：密封
检测对象：石英晶体谐振器
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> 等 17 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、基极-发射极饱和电压V<Sub>BEsat</Sub>、放大倍数h<Sub>FE</Sub>、集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO</Sub>、发射极-基极截止电流I<Sub>EBO</Sub>
检测对象：晶体管
SJ/T20646-1997
混合集成电路DC-DC变换器测试方法
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>
检测对象：DC/DC模块
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>Ib</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>Ib</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体器件 分立器件 第3部分 信号(包括开关)和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>、正向电压V<Sub>F</Sub>、工作电压V<Sub>Z</Sub>、微分电阻r<Sub>Z</Sub>
检测对象：二极管
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：输出电压V<Sub>O</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象：三端稳压电源（电压调整器）
半导体器件 分立器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅极截止电流I<Sub>GSS</Sub>、漏极截止电流I<Sub>DSS</Sub>、栅-源阈值电压V<Sub>GSth</Sub>
检测对象：场效应晶体管