数据更新时间
2026-05-12
按“暗室”筛选，展示 15 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
CISPR 16-1-4:2017
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
检测项目：归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
ANSI C63.4-2014
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
检测项目：归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
检测项目：归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
CISPR 16-1-4:2019
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
检测项目：归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
CISPR 16-1-4:2019+AMD1:2020
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
检测项目：归一化场地衰减（NSA）、场地电压驻波比（SVSWR）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法. 5,
检测项目：归一化场地衰减（NSA）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
CISPR 32:2015
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 A.
检测项目：归一化场地衰减（NSA）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
CISPR 32:2015+COR1:2016
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法. A.
检测项目：归一化场地衰减（NSA）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
CISPR 32:2015+AMD1:2019
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法. A.
检测项目：归一化场地衰减（NSA）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）
ANSI C63.4a-2017
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰 Annex D
检测项目：归一化场地衰减（NSA）
检测对象：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC）