数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 20 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体器件集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000/
半导体器件集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000/
检测项目：输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：稳定性烘焙、温度循环、老炼试验、粒子碰撞噪声检测试验、密封、恒定加速度
检测对象：半导体集成电路CMOS电路