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陕西省电子信息产品监督检验院陕西省软件评测中心

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陕西省

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“电流”筛选,展示 96 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 30 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 17940-2000

半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第IV篇第2节

8 项检测项目

检测项目:电源电流、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、短路输出电流IOS、备用电流(静态电流)、短路电流(IOS)、截止态电流、导通态电流

检测对象:线性放大器(包括运算放大器)

电源电流输入失调电流IIO输入偏置电流IIB短路输出电流IOS

检测对象:电压调整器

备用电流(静态电流)短路电流(IOS)

检测对象:模拟开关

截止态电流导通态电流

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015

半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015

7 项检测项目

检测项目:电流传输比、反向电流、输入触发电流、输出截止电流、高电平电源电流、正向电流(二极管)、低电平电源电流

检测对象:光电耦合器

电流传输比反向电流输入触发电流输出截止电流高电平电源电流正向电流(二极管)低电平电源电流

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

6 项检测项目

检测项目:输出高电平电流、输出低电平电流、输入高电平电流(IIH)、输入低电平电流(IIL)、输出短路电流(IOS)、静态条件下的电源电流

检测对象:数字集成电路

输出高电平电流输出低电平电流输入高电平电流(IIH)输入低电平电流(IIL)输出短路电流(IOS)静态条件下的电源电流
GB/T 6798-1996

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

6 项检测项目

检测项目:输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、高电平输出电流IOH、低电平输出电流IOL、低电平选通电流IST(L)、高电平选通电流IST(H)

检测对象:电压比较器

输入失调电流IIO输入偏置电流IIB高电平输出电流IOH低电平输出电流IOL低电平选通电流IST(L)高电平选通电流IST(H)
GB/T 4587-1994

半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极性晶体管 第IV章第1节

6 项检测项目

检测项目:集电极-基极截止电流(直流法)(ICBO)、发射极-基极截止电流(直流法)(IEBO)、集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、共发射极正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法)(h21E)、发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO、集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V(BR)EBO

检测对象:双极型晶体管

集电极-基极截止电流(直流法)(ICBO)发射极-基极截止电流(直流法)(IEBO)集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)共发射极正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法)(h21E)发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V(BR)EBO
GB/T 4587-2023

半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管

6 项检测项目

检测项目:集电极-基极截止电流(直流法)(ICBO)、发射极-基极截止电流(直流法)(IEBO)、集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、共发射极正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法)(h21E)、发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO、集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V(BR)EBO

检测对象:双极型晶体管

集电极-基极截止电流(直流法)(ICBO)发射极-基极截止电流(直流法)(IEBO)集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)共发射极正向电流传输比(输出电压保持不变)(直流或脉冲法)(h21E)发射极电流为零时的集电极-基极击穿电压V(BR)CBO集电极电流为零时的发射极-基极击穿电压V(BR)EBO
GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第2节

5 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流(IOZ)、输入高电平电流(IIH)、输入低电平电流(IIL)、输出短路电流(IOS)、静态条件下的电源电流

检测对象:数字集成电路

输出高阻态电流(IOZ)输入高电平电流(IIH)输入低电平电流(IIL)输出短路电流(IOS)静态条件下的电源电流

GB/T 15136-1994

半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理

5 项检测项目

检测项目:电源电流IDD、输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL、输出高电平电流IOH、输出低电平电流IOL

检测对象:石英钟表电路

电源电流IDD输入高电平电流IIH输入低电平电流IIL输出高电平电流IOH输出低电平电流IOL

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法

5 项检测项目

检测项目:反向漏电流、集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流、正向电流传输比

检测对象:二极管

反向漏电流

检测对象:晶体管

集电极-基极截止电流集电极-发射极截止电流发射极-基极截止电流正向电流传输比
GB/T 15291-2015

半导体器件 第6部分:晶闸管

5 项检测项目

检测项目:反向峰值电流、维持电流、断态电流、擎住电流、门极触发电流和(或)门极触发电压

检测对象:晶闸管

反向峰值电流维持电流断态电流擎住电流门极触发电流和(或)门极触发电压

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

4 项检测项目

检测项目:输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、短路输出电流IOS、最大输出电流

检测对象:线性放大器(包括运算放大器)

输入失调电流IIO输入偏置电流IIB短路输出电流IOS最大输出电流

SJ/T 10805-2018

半导体集成电路电压比较器测试方法

4 项检测项目

检测项目:输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、高电平输出电流IOH、低电平输出电流IOL

检测对象:电压比较器

输入失调电流IIO输入偏置电流IIB高电平输出电流IOH低电平输出电流IOL
GB/T14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

4 项检测项目

检测项目:复位电流IR、触发电流ITR、阈值电流IT、静态电源电流I+

检测对象:时基电路

复位电流IR触发电流ITR阈值电流IT静态电源电流I+
GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

3 项检测项目

检测项目:电流调整率(SI)、耗散电流(ID)和耗散电流变化(△ID)、短路电流(IOS)

检测对象:电压调整器

电流调整率(SI)耗散电流(ID)和耗散电流变化(△ID)短路电流(IOS)
GB/T 14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

3 项检测项目

检测项目:截止态漏极漏电流[ID(off)]、截止态源极漏电流[IS(off)]、导通态漏电流[IDS(on)]

检测对象:模拟开关

截止态漏极漏电流[ID(off)]截止态源极漏电流[IS(off)]导通态漏电流[IDS(on)]

SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法

3 项检测项目

检测项目:输出电流、电流调整率、输入电流

检测对象:DC/DC变换器

输出电流电流调整率输入电流

SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.1.15、

2 项检测项目

检测项目:数字输入高电平电流IIH、数字输入低电平电流IIL

检测对象:A/D和D/A转换器

数字输入高电平电流IIH数字输入低电平电流IIL
GB/T 4586-1994

半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第IV章

2 项检测项目

检测项目:栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流

检测对象:场效应晶体管

栅极截止电流或栅极漏泄电流漏极电流

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、

1 项检测项目

检测项目:输出高阻态电流(IOZ)

检测对象:数字集成电路

输出高阻态电流(IOZ)

GB/T14114-1993

半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 4.7、

1 项检测项目

检测项目:静态电源电流ID

检测对象:电压/频率和频率/电压转换器

静态电源电流ID
GB/T 14115-1993

半导体集成电路采样保持放大器测试方法的基本原理

1 项检测项目

检测项目:跌落电流IDR

检测对象:采样保持放大器

跌落电流IDR

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

1 项检测项目

检测项目:反向漏电流

检测对象:二极管

反向漏电流
GB/T 6571-1995

半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第IV章第1节1、第IV章第2节

1 项检测项目

检测项目:反向漏电流

检测对象:二极管

反向漏电流
GB/T 4023-2015

半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

1 项检测项目

检测项目:反向漏电流

检测对象:二极管

反向漏电流

固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017

固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017

1 项检测项目

检测项目:输出漏电流

检测对象:固体继电器

输出漏电流
GB/T 15651.3-2003

半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分: 光电子器件测试方法

1 项检测项目

检测项目:电流传输比

检测对象:光电耦合器

电流传输比

GJB 1648A-2011

晶体振荡器通用规范

1 项检测项目

检测项目:输入电流功率

检测对象:晶体振荡器

输入电流功率

GA/T 793.1-2008

《城市监控报警联网系统 合格评定 第1部分:系统功能性能检验规范》 7(表6序号2)

1 项检测项目

检测项目:监控中心设备泄漏电流

检测对象:城市监控报警联网系统

监控中心设备泄漏电流
GB/T 2693-2001

电子设备用固定电容器 第1部分:总规范

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:固定电容器

漏电流
GB/T 6346.1-2024

电子设备用固定电容器 第1部分:总规范

1 项检测项目

检测项目:漏电流

检测对象:固定电容器

漏电流

机构信息

机构名称

陕西省电子信息产品监督检验院陕西省软件评测中心

所在地区

陕西省

企业地址

暂无地址信息

联系电话

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