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《电器设备外壳对外界机械碰撞的防护等级(IK代码)》

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

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GJB 360B-2009

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GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

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