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数据更新时间
2026-05-12
按“CMOS电路”筛选，展示 12 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高电平电流、输出低电平电流、输出高电平电压(VOH)、输出低电平电压(VOL)、输入高电平电流(IIH)、输入低电平电流(IIL)、输出短路电流(IOS)、静态条件下的电源电流 等 10 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、
检测项目：输出高阻态电流(IOZ)
检测对象：数字集成电路
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.4
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.4
检测项目：输入阈值电压
检测对象：数字集成电路