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2026-05-12
按“S”筛选,展示 96 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 17 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目:电流传输比、集电极-发射极饱和电压、正向电压、反向电流、反向击穿电压、输入触发电流、集电极-发射极击穿电压、输出截止电流 等 13 项,点击展开全部
检测对象:光电耦合器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目:输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、静态功耗PD、开环电压增益AVD、共模抑制比KCMR、电源电压抑制比KSVR、输出高电平电压VOH 等 11 项,点击展开全部
检测对象:电压比较器
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、交叉调整率、输入电流、效率 等 11 项,点击展开全部
检测对象:DC/DC变换器
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目:输出高电平电流、输出低电平电流、输出高电平电压(VOH)、输出低电平电压(VOL)、输入高电平电流(IIH)、输入低电平电流(IIL)、输出短路电流(IOS)、静态条件下的电源电流 等 10 项,点击展开全部
检测对象:数字集成电路
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目:零点误差EZ、增益误差EG、失调误差EO、微分线性误差EDL、功耗Pw、数字输入高电平电流IIH、数字输入低电平电流IIL、基准电压VREF 等 10 项,点击展开全部
检测对象:A/D和D/A转换器
系统与软件工程 系统与软件质量要求和评价(SQuaRE) 第51部分:就绪可用软件产品(RUSP)的质量要求和测试细则
检测项目:产品说明要求、用户文档集要求、产品质量-功能性、产品质量-性能效率、产品质量-兼容性、产品质量-易用性、产品质量-可靠性、产品质量-信息安全性 等 10 项,点击展开全部
检测对象:应用软件
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13、
检测项目:输出高阻态电流(IOZ)
检测对象:数字集成电路
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.4
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.4
检测项目:输入阈值电压
检测对象:数字集成电路
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第IV篇第2节
检测项目:电源电压抑制比KSVR、短路输出电流IOS、输出电压最大变化率(转换速率)SVOM、电源纹波抑制比(Srip)、短路电流(IOS)
检测对象:线性放大器(包括运算放大器)
检测对象:电压调整器
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率(SV)、电流调整率(SI)、电源纹波抑制比(Srip)、短路电流(IOS)
检测对象:电压调整器
半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管
检测项目:集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、集电极-发射极饱和电压(直流法) (VCEsat)、基极-发射极饱和电压(直流法) (VBEsat)、集电极-发射极电压(VCEO、VCES、VCER、VCBX)
检测对象:双极型晶体管
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第IV章
检测项目:栅-源截止电压(VGSoff)、栅-源阈值电压(VGSth)、漏-源通态电压(VDSon)、静态漏-源通态电阻(rDSon)
检测对象:场效应晶体管
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目:电源电压抑制比KSVR、短路输出电流IOS、输出电压最大变化率(转换速率)SVOM
检测对象:线性放大器(包括运算放大器)
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:电源电压抑制比KSVR、低电平选通电流IST(L)、高电平选通电流IST(H)
检测对象:电压比较器
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极性晶体管 第IV章第1节
检测项目:集电极-发射极截止电流(直流法)(ICEO、ICER、ICEX、ICES)、集电极-发射极饱和电压(直流法) (VCEsat)、基极-发射极饱和电压(直流法) (VBEsat)
检测对象:双极型晶体管
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目:截止态源极漏电流[IS(off)]、导通态漏电流[IDS(on)]
检测对象:模拟开关
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇第2节
检测项目:输出短路电流(IOS)
检测对象:数字集成电路