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深圳世标检测认证股份有限公司

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广东省 · 深圳市

地址:深圳市宝安区石岩街道塘头社区塘头大道58号宝利安工业园B栋104、202、402、502(一照多址企业)

联系电话:0755-26996192

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“Bt”筛选,展示 447 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 7 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

EN IEC 62680-1-3:2022

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

IEC 62680-1-3:2022

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

BS EN IEC 62680-1-3:2021

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

SASO-IEC 62680-1-3:2023

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

PN-EN IEC 62680-1-3:2023-06

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

QCVN 132: 2022/BTTTT

音/视频、信息与通讯技术设备-第1部分 安全要求

26 项检测项目

检测项目:通用要求、电引起的危害、电引起的着火、有害物质引起的伤害、机械引起的伤害、热灼伤、辐射、正常工作条件试验、异常工作条件试验和单一故障条件试验 等 26 项,点击展开全部

检测对象:音/视频、信息与通讯技术设备

通用要求电引起的危害电引起的着火有害物质引起的伤害机械引起的伤害热灼伤辐射正常工作条件试验、异常工作条件试验和单一故障条件试验含有音频放大器的设备的试验条件设备标志、说明和指示性安全防护附录G:元器件电话振铃信号准则带电池组及其保护电路的设备导电物体的安全防护预定与建筑物配线互连的电路耐热和耐燃试验机械强度试验可触及零部件的确定正常工作条件下的测试,故障工作条件的试验和单一故障条件试验含音频放大器设备的测试条件设备的标记,说明,和指导的安全措施包含电池和保护电路的设备对导电物体的保护对于建筑布线互连预定电路耐热和防火测试可触及零部件的测定

KS 2319:2011

食品接触材料中塑料材料成分总迁移量的测定-分析方法

1 项检测项目

检测项目:总迁移

检测对象:聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET和PBT)

总迁移

机构信息

机构名称

深圳世标检测认证股份有限公司

所在地区

广东省 · 深圳市

企业地址

深圳市宝安区石岩街道塘头社区塘头大道58号宝利安工业园B栋104、202、402、502(一照多址企业)

联系电话

0755-26996192

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