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深圳世标检测认证股份有限公司

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广东省 · 深圳市

地址:深圳市宝安区石岩街道塘头社区塘头大道58号宝利安工业园B栋104、202、402、502(一照多址企业)

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“Sb”筛选,展示 424 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 12 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

EN IEC 62680-1-3:2022

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

IEC 62680-1-3:2022

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

BS EN IEC 62680-1-3:2021

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

SASO-IEC 62680-1-3:2023

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

PN-EN IEC 62680-1-3:2023-06

数据和电源通用串行总线接口-第1-3部分:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

41 项检测项目

检测项目:4轴向导电连通性、CC与D+/D-的差分耦合、CC与D-的单端耦合、D+, D-线对衰退、D+/D-上的积分差分串扰、D+/D-对内延迟差、D+D-线对传播延时、D+和D-的直流电阻 等 41 项,点击展开全部

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

检测对象:常用组件- USB Type-C®电缆和连接器规范

4轴向导电连通性CC与D+/D-的差分耦合CC与D-的单端耦合D+, D-线对衰退D+/D-上的积分差分串扰D+/D-对内延迟差D+D-线对传播延时D+和D-的直流电阻Rd电阻核查Rp电阻核查SBU_A和CC, SBU_B和CC的单端耦合SBU_A和 SBU_B的单端耦合SBU_A/ SBU_B和差分的D+D-的耦合VBUS和其他低速信号的互感VBUS和D+D-的差分耦合VBUS回路电感VBUS电容奈奎斯特频率的插入损耗拟合导电联通性尺寸测试差分-共模转换扭曲测试抗电强度接触电阻拔插力机械振动温度冲击温度变化温湿度循环线缆压降线缆弯曲线缆拔出D+/D-对差分阻抗绝缘电阻综合回波损耗综合多反射耐久性触点电流额定值高温寿命高速对与D+/D-的集成串扰高速对的集成串扰

SB/T 10371-2003

鸡精调味料

2 项检测项目

检测项目:呈味核苷酸二钠、谷氨酸钠

检测对象:鸡精调味料

呈味核苷酸二钠谷氨酸钠

SB/T 10416-2007

调味料酒

2 项检测项目

检测项目:总酸、氨基酸态氮

检测对象:调味料酒

总酸氨基酸态氮

EN IEC 62680-1-2:2022

通用串行总线数据和电源接口。第1-2部分:通用部件- usb电源输出规范

1 项检测项目

检测项目:PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输

PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输规范

PD协议一致性

IEC 62680-1-2:2021

通用串行总线数据和电源接口。第1-2部分:通用部件- usb电源输出规范

1 项检测项目

检测项目:PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输

PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输规范

PD协议一致性

BS EN IEC 62680-1-2:2021

通用串行总线数据和电源接口。第1-2部分:通用部件- usb电源输出规范

1 项检测项目

检测项目:PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输

PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输规范

PD协议一致性

SASO IEC 62680-1-2:2023

通用串行总线数据和电源接口。第1-2部分:通用部件- usb电源输出规范

1 项检测项目

检测项目:PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输

PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输规范

PD协议一致性

PN-EN IEC 62680-1-2:2023-06

通用串行总线数据和电源接口。第1-2部分:通用部件- usb电源输出规范

1 项检测项目

检测项目:PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输

PD协议一致性

检测对象:通用组件- usb电源传输规范

PD协议一致性

机构信息

机构名称

深圳世标检测认证股份有限公司

所在地区

广东省 · 深圳市

企业地址

深圳市宝安区石岩街道塘头社区塘头大道58号宝利安工业园B栋104、202、402、502(一照多址企业)

联系电话

0755-26996192

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